Кашолкин Б.И., Митричев Л.С., Смелков Г.И., Торяник В.В. Исследование следов короткого замыкания в медных проводниках методом рентгеноструктурного анализа: Криминалистическое исследование материалов и веществ физическими, химическими и биологическими методами // Материалы Всесоюзной научной конференции "Современные тенденции развития судебной экспертизы вещественных доказательств и пути внедрения новых физических, химических и биологических методов исследования в экспертную практику": Криминалистическое исследование материалов и веществ физическими, химическими и биологическими методами. - М.: Изд-во ВНИИСЭ, 1972, Ч. 3: Вып. 2. - С. 70-71