| |
Скоро: доступ к каталогу только после регистрации на сайте - Регистрация
Кострова К.А., Смирнов В.К. Выявление особенностей надмолекулярной структуры целлофановых пленок методом электронной микроскопии // Экспертная практика и новые методы исследования. Экспресс-информация. - М.: Изд-во ВНИИСЭ, 1976, Вып. 23. - С. 10-17 Кострова К.А., Смирнов В.К.:
Выявление особенностей надмолекулярной структуры целлофановых пленок методом электронной микроскопии
Возможно, Вас так же заинтересуют следующие издания:- Гурова Р.П., Смирнов В.К.,
Выявление признаков стирки хлопчатобумажных тканей методом растровой электронной микроскопии → - Гурова Р.П., Пучков В.А., Смирнов В.К.,
Выявление признаков воздействия сигналитического поля методом растровой электронной микроскопии → - Золотаревская И.А., Кострова К.А.,
О возможности криминалистического исследования пластичных смазок методом просвечивающей электронной микроскопии → - Брянцева З.Е., Гурова Р.П.,
Сравнительное исследование структуры поверхности писчей бумаги методом растровой электронной микроскопии → - Гурова Р.П., Толкачева Ф.К.,
Применение метода электронной микроскопии для исследования волокнистой структуры бумаги → - Козлова Л.Н., Кострова К.А., Смирнов В.К.,
Исследование тонкой структуры волокон хлопка методом ультрамикротомирования → - Золотаревская И.А., Кострова К.А., Крылова И.В.,
Экспертная практика и новые методы исследования: Возможности использования просвечивающей электронной микроскопии для криминалистического исследования пластичных смазок. Вып. 19 →
|
