Добавить сайт в избранное
Юридическая научная библиотека издательства «СПАРК»
Каталог:
   

Скоро: доступ к каталогу только после регистрации на сайте - Регистрация


 
Фам Хоа Ван Патентная экспертиза в странах - участницах АСЕАН // Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность. - М., 2007, № 11. - С. 51-54

Фам Хоа Ван:
Патентная экспертиза в странах - участницах АСЕАН

Тип: Статья
Автор: Фам Хоа Ван
Место издания: Москва
Количество страниц: 51-54
Год издания: 2007 г.


Возможно, Вас так же заинтересуют следующие издания:





↑ Вверх  

Система Orphus Яндекс.Метрика