|
Скоро: доступ к каталогу только после регистрации на сайте - Регистрация
Рушайло Б.Е. Патентные исследования в системе "Патент-аналитик" // Патенты и лицензии. - М., 2014, № 10. - С. 48-53 Рушайло Б.Е.: Патентные исследования в системе "Патент-аналитик"
Тип: Статья
Автор: Рушайло Б.Е.
Место издания: Москва
Количество страниц: 48-53
Год издания: 2014 г.
| |
Возможно, Вас так же заинтересуют следующие издания: |